做座Nanofoot产品成半导体激光器性能测

Nanofoot产品成半导体激光器性能测试利器

从20世纪70年代向周边具有10kN夹紧力的试样施加压力末开始，半导体激光器明显向着两个方向发展，一类是以传递信息为目的的信息型激光器。另一类是以提高光功率为目的的功率型激光器。在泵浦固体激光器等应用的推动下，高功率半导体激光器（连续输出功率在100W以上，脉冲输出功率在5W以上，均可称之谓高功率半导体激光器）在20世纪90年代取得了突破性进展，其标志是易损部件2：板卡半导体激光器的输出功率显著增加，国外千瓦级的高功率半导体激光器已经商品化，国内样品器件输出已达到600W。由于高功率半导体的应用越来越多的被发掘，高功率半导体激光器的品质已经成为大家越来越关心的问题。

Nanofoot公司的半导体激光测试设备是半导体激光器性能检测的利器，也成为半导体激光器研发和生产过程中的关键环节。他们自身在开发类似设备上的丰富经验让他们的产品更方便，更可靠，且集成多种功能，几乎能测量半导体激光器的所有参数和封装性能，如LIV曲线，远场特性，光谱分析，smile效应，温度特性，Visual inspection（近场特性）等。

LIV曲线包含光强，电压，斜效率等特征参数，是表征半导体激光器在不同工作条件下的变化趋势，用于考察半导体的电光转换效率和性能稳定性。

无论是作为泵浦源还是直接作用于工作物质，功率与波长都是半导体激光器最重要的两个参数指标。Nanofoot的LDC5000集成了单发光点半导体重要参数的检测手段，把烦琐的的参数设置，交给系统自动完成，操作，并最终获得不同温度，不同电流下的各种参数曲线。附具主要用于固定试样此外，Nanofoot半导体检测设备高度集成化的优点，使其应用更灵活，例如，FF360可作为独立检测单元可专门用来检测单发光点的远场特性，也否则会影响线条生产时线径的稳定性可集成到LDC5000等多功能系统中。

远场特性反映的是远场光斑的横向强度分布。FF360用高速扫描的方式获得半导体激光的强度信息。扫描角度分辨率最高可达到0.03°，扫描速度可达每秒300°或者700个采样点。

以上是扫描获得的远场二维图象，此外，FF360还可获取三维视图，使信息更直观。

强大的软件系统，界面简洁却功能强大，易于操作而内容丰富，可输出多种格式（CSV， PDF， PNG， PS， XML）。

相对于单发光点半导体来说，多发光点的巴条的结构更复杂，因此，性能分析也更复杂。如果要快速检测wafer或巴条性能，以判断其合格与否，LPT1000是不错的选择。该款检测设备能够快速检测各发光点，且性价比很高，是芯片生长控制的有效手段。(end)